Test di circuiti integrati

Silis beneficia della collaborazione con l’Università di Parma e i suoi senior test engineers con anni di esperienza nella caratterizzazione di circuiti integrati. Siamo in grado di allestire banchi di prova delicati e complessi come, ad esempio, convertitori A / D ad alta risoluzione, ad alta velocità , serializzatore / deserializzatore e altro ancora

L’abilità dei collaudatori Silis è ottimizzata grazie alla collaborazione con i nostri progettisti che hanno sviluppato il Circuito Integrato. I servizi di test vanno dalla progettazione di PCB ad alte prestazioni al supporto alla produzione, dalla configurazione del banco di prova alle misurazioni accurate. I nostri servizi di misurazione includono:

• IC di conversione dati, ovvero ADC / DAC ad alta velocità e alta risoluzione, fino a 1 Gsps
• IC di comunicazione ad alta velocità, ovvero LVDS, SerDes, line driver, fino a 3 GHz (misurazioni del jitter, diagrammi a occhio e altro)
• Circuiti RF fino a 20 GHz (con microsonde per rilevamento del segnale a livello di die e wafer)
• Circuiti per usi generali
• Flicker noise analysis
• Caratterizzazione della temperatura in camera climatica

Risparmia tempo, budget ed esposizione al rischio affidando a Silis la progettazione e la caratterizzazione dei circuiti integrati.